WEKO3
アイテム / A Study on Time Dependent Variations Caused Rare-Event Fail Bit Count Prediction Analysis Methods for Nano-Meter Scaled SRAM Reliability Designs / DC_Ko_k_40
DC_Ko_k_40
ファイル | ライセンス |
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DC_Ko_k_40.pdf (8.6 MB) sha256 4f89f3e9c71f15dd3758c495f155edd0bbda5e15165e66a5756bdabb1aa73657 |
公開日 | 2018-05-24 | |||||
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ファイル名 | DC_Ko_k_40.pdf | |||||
本文URL | https://fit.repo.nii.ac.jp/record/302/files/DC_Ko_k_40.pdf | |||||
ラベル | DC_Ko_k_40.pdf | |||||
フォーマット | application/pdf | |||||
サイズ | 8.6 MB |
Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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